高低溫環(huán)境試驗箱可以用來考核和確定電工、電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化，產(chǎn)品表面產(chǎn)生低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。設(shè)備采用強迫空氣循環(huán)來保持工作室內(nèi)溫度的均勻性。為限制輻射影響，設(shè)備內(nèi)壁各部分溫度與試驗規(guī)定的溫度之差不大于8%，且試驗樣品不會受到設(shè)備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。參照標準：低溫試驗箱滿足GB/T2423.1-2008試驗A《低溫試驗方法》；GB/T2423.2-2008試驗B《高溫試驗方法》以及其它相關(guān)標準的要求，可進行各種高低溫環(huán)境試驗。

      制冷循環(huán)均采用逆卡若循環(huán)，該循環(huán)由兩個等溫過程和兩個絕熱過程組成，其過程如下：制冷劑經(jīng)壓縮機絕熱壓縮到較高的壓力，消耗了功使排氣溫度升高，之后制冷劑經(jīng)冷凝器等溫地和四周介質(zhì)進行熱交換將熱量傳給四周介質(zhì)。后制冷劑經(jīng)截流閥絕熱膨脹做功，這時制冷劑溫度降低。zui后制冷劑通過蒸發(fā)器等溫地從溫度較高的物體吸熱，使被冷卻物體溫度降低。此循環(huán)周而復(fù)始從而達到降溫之目的。